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GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀，精確、快速、便攜。
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SARTORIUS 賽多利斯 精密天平 Practum5101-1CN（5100g/0.1g,外校），確保精度和準確度，讓您物超所值。請不要錯過新型的Practum®天平！它擁有賽多利斯品質(zhì)與德國開發(fā)并設(shè)計的技術(shù)，確保可實現(xiàn)穩(wěn)定的讀數(shù)和出色的重復(fù)性。Practum®具備一切您所需要的標準應(yīng)用程序。
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